Modern Instrumentation

Modern Instrumentation

ISSN Print: 2165-9257
ISSN Online: 2165-9273
www.scirp.org/journal/mi
E-mail: mi@scirp.org
Citations    
"Influence of Temperature on the Measuring Accuracy of Devices Based on Surface Plasmon Resonance Phenomenon"
written by Hanna V. Dorozinska, Tatyana A. Turu, Olga M. Markina, Glib V. Dorozinsky, Volodymyr P. Maslov,
published by Modern Instrumentation, Vol.7 No.1, 2018
has been cited by the following article(s):
  • Google Scholar
  • CrossRef
[1] Unraveling the Dynamics of SARS-CoV-2 Mutations: Insights from Surface Plasmon Resonance Biosensor Kinetics
Biosensors, 2024
[2] Design and theoretical analysis of SPR biosensors based on gold-silver alloy and protective top layer for enhanced biosensing applications
Physica B: Condensed Matter, 2024
[3] Вплив плівкового підшару оксидів індію-олова на роботу сенсорів поверхневого плазмонного резонансу
2023
[4] Вплив товщини нанорозмірних шарів метало-діелектричної структури на її оптичні характеристики
Мікросистеми, Електроніка та …, 2022
[5] Підвищення метрологічних характеристик сенсора на основі явища поверхневого плазмонного резонансу
2021
[6] Вплив матеріалу призми ППР-сенсора на температурну стабільність результату вимірювання
2021
[7] Comparison of the Optical Planar Waveguide Sensors' Characteristics Based on Guided-Mode Resonance
2020
[8] Підвищення ефективності ребристо-стержневої випромінювальної структури з використанням плазмового розряду
2020
[9] Development High Sensitivity Sensors Based on Surface Plasmon Resonance Phenomenon
2019 IEEE 39th International Conference on Electronics and Nanotechnology (ELNANO), 2019
[10] The temperature impact on the characteristics of the surface plasmon resonance sensors element
Optik, 2019
[11] Теоретичне обгрунтування контролю якості живих вакцин методом поверхневого плазмонного резонансу
2019
[12] Высокоинформативный комплексный метод определения типа моторного масла
2019
Free SCIRP Newsletters
Copyright © 2006-2024 Scientific Research Publishing Inc. All Rights Reserved.
Top